輝光放電質譜儀
(Glow Discharge Mass Spectrometers, GDMS)
Nu Instruments Astrum ES
掃描式電子顯微鏡 (SEM/EDX)
JEOL JSM-6510+Oxford X-Act IE250
X光繞射儀 (X-Ray Diffraction, XRD)
PANalytical X’Pert PRO
感應耦合電漿 原子放射光譜儀
(Inductive Coupled Plasma, ICP-OES) Agilent 5100
微波消化器 CEM MARS 6
波長分散式 螢光分析儀 (WD-XRF)
Rigaku Supermini 200
電弧激發 原子放射光譜儀 (Spark-AES)
Bruker Q4 Tasman 130
碳硫分析儀 (Carbon/Sulfur Analyzer)
Horiba EMIA-Pro
氧氮分析儀 (Oxygen/Nitrogen Analyzer)
Horiba EMGA-820
雷射粒徑分析儀
Laser Particle Size Analyzer BT-2003
金相顯微鏡 Olympus BH
數位式光學顯微鏡 Keyence VHX-6000
三次元量測儀 Keyence XM-1200
龍門型三次元量測儀
坤博QPM, 1000x600x600mm
影像尺寸量測儀 Keyence IM-7030
霍爾效應測試儀
(Hall Effect Measurement System)
智果 VDP6800C
四點探針
Keithley 2401 Source Meter + 2182A Nanovolt Meter
溫控熱載盤 (Hot Chuck) RT~200C
色差儀 X-Rite i5
熱重-熱差分析儀 (TG-DTA)
Mettler-Toledo STARe Excellence TGA/DSC 3+ HT
紫外-可見光譜儀(UV-VIS)
Thermo Fisher Evolution 220 + ISA-220積分球
氦氣測漏儀 Pfeiffer ASM340
金相研磨拋光機
洛式硬度計 Rockwell Hardness Tester
